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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « D. Jacob »
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D. J. Rogers < D. Jacob < D. Jahan  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
001213 (2001) LACBED measurement of the chemical composition of a thin InxGa1-x as layer buried in a GaAs matrix
001925 (1998) Surface relaxation of strained semiconductor heterostructures revealed by finite-element calculations and transmission electron microscopy
001C83 (1997) Elastic misfit stress relaxation in In0.25Ga0.75As layers grown under tension on InP(001)

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Experimental study
2Finite element method
2Gallium arsenides
2Indium arsenides
2Stress relaxation
2TEM
2Ternary compounds
1Atomic force microscopy
1Buried layers
1Chemical composition
1Elastic deformation
1Epitaxial layers
1Heterojunctions
1III-V semiconductors
1Image contrast
1STM
1Semiconductor materials
1Strained layer
1Substrates
1Surfaces
1Thin films

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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