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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (France)

Index « Auteurs » - entrée « A. Quemerais »
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A. Pousse < A. Quemerais < A. R. Adams  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
001C99 (1997) Characterization of phosphorus oxinitride (PON) gate insulators for InP metal-insulator-semiconductor devices
002721 (1993) Chemical-shift low-energy photoelectron diffraction : a determination of the InP(110) clean surface structural relaxation
002B93 (1990) Angle resolved X-ray photoemission study of rapid thermal annealing applied to different GaAs and InP samples

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Indium Phosphides
1Angle
1Characterization
1Compounded structure
1Electron diffraction
1Experimental study
1Gallium Arsenides
1III-V compound
1Indium phosphides
1MIS structure
1Measurement
1Phosphorus Nitrides oxides
1Photoelectron spectroscopy
1Semiconductor materials
1Structure relaxation
1Substrate
1Surface analysis
1Surface structure
1Thermal annealing
1Voltage capacity curve
1Wafer
1X ray

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/France/Analysis

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