000130 (2012) |
| Efficient Preparation of Anhydrous Metallic Triflates and Triflimides under Ultrasonic Activation |
000251 (2010) |
| Profil métallique tissulaire par ICP-MS chez des sujets décédés |
001815 (1998-11) |
| Application de l'imagerie de photoluminescence à l'étude de la distribution spatiale de propriétés physico-chimiques de semiconducteurs pour la réalisation de dispositifs |
001B09 (1997-07) |
| CONTRIBUTION A L'AMELIORATION DE METHODES DE CARACTERISATIONS ELECTRIQUES DE STRUCTURES MIS (Au/BN/InP) ET MOS |
001B36 (1997-04-15) |
| Magnetic microscopy with small scale Hall probes (invited) (abstract) |
001F29 (1996) |
| Highly sensitive In0.75Ga0.25As/AlInAs Hall sensors |
002487 (1993-06) |
| Modélisation des transistors à effet de champ sur substrat InP par méthode quasi-bidimensionnelle |
002D23 (1988) |
| Papers/18th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC 88), September 13-16, 1988, Montpellier, FRA |
000035 (2013) |
| Numerical simulation and characterization of trapping noise in InGaP-GaAs heterojunctions devices at high injection |
000069 (2013) |
| Contact vs bulk effects in N-semi-insulating-N and P-semi-insulating-P diodes |
000118 (2012) |
| Indium-Promoted Reformatsky Reaction: A Straightforward Access to β-Amino and β-Hydroxy α,α-Difluoro Carbonyl Compounds |
000264 (2010) |
| Surfactant effect of bismuth in atmospheric pressure MOVPE growth of InAs layers on (1 0 0) GaAs substrates |
000383 (2009) |
| Theoretical analysis and comparison of SWIR active imaging detectors |
000428 (2009) |
| Investigation by EELS and TRIM simulation method of the interaction of Ar+ and N+ ions with the InP compound |
000607 (2008) |
| AES, EELS and TRIM investigation of InSb and InP compounds subjected to Ar+ ions bombardment |
000785 (2006) |
| Photoreflectance study at the micrometer scale |
000944 (2005) |
| Interfacial interaction of solid nickel with liquid bismuth and Bi-base alloys |
000A06 (2005) |
| Conservative indentation flow throughout thin (011) InP foils |
000A10 (2005) |
| Comments on: Microwave noise modeling for InP-InGaAs HBTs. Authors' reply |
000B89 (2004) |
| Alloy broadening effect on optical properties of InGaAs grown by MOCVD with TMAs precursor |
000C43 (2003-04-15) |
| Implementation of an all-electron GW approximation based on the projector augmented wave method without plasmon pole approximation: Application to Si, SiC, AlAs, InAs, NaH, and KH |
000F37 (2002) |
| Quantitative measurement of In fluctuation inside MOCVD InGaN QWs |
001010 (2002) |
| Gradual degradation in 980 nm InGaAs/AlGaAs pump lasers |
001438 (2000) |
| Improved bias-thermal-stress method for the insulator charge measurement of BN/InP MIS structures |
001562 (1999-06-15) |
| (1×2) Bi chain reconstruction on the InAs(110) surface |
001609 (1999-01) |
| MISE EN ŒUVRE D'UNE NOUVELLE MÉTHODE DE CARACTÉRISATION EN BRUIT DE COMPOSANTS ACTIFS : ÉTUDE DU BRUIT HF DE DISPOSITIFS À HÉTÉROJONCTION POUR LES APPLICATIONS MILLIMÉTRIQUES |
001658 (1999) |
| Strain relaxation at cleaved surfaces studied by atomic force microscopy |
001665 (1999) |
| Simulation of post-growth Be diffusion in InGaAsP grown by GSMBE |
001675 (1999) |
| Random telegraph signal noise instabilities in latticemismatched InGaAs/InP photodiodes |
001681 (1999) |
| Partial enthalpies of Bi and Te in Bi-Te melts and of In and Te in In-Te melts |
001688 (1999) |
| Optical and mechanical design of an InP based tunable detector for gas sensing applications |
001793 (1998-12) |
| «SIMULATION MONTE-CARLO EN REGIMES STATIQUE ET DYNAMIQUE DE HEMT DE LA FILIERE InP» |
001794 (1998-12) |
| Ellipsométrie spectroscopique ex situ à plusieurs angles d'incidence : caractérisation de couches massives et de structures multicouches |
001801 (1998-12) |
| ASPECTS FONDAMENTAUX DE LA CROISSANCE EN SOLUTION ET EN PHASE VAPEUR DE L'OXYDE DE ZINC |
001811 (1998-11) |
| Etude des effets parasites du transistor à haute mobilité électronique (HEMT) sur InP pour applications micro-optoélectroniques |
001946 (1998) |
| Quantitative autoradiography using a radioimager based on a multiwire proportional chamber |
001985 (1998) |
| Investigation of Be diffusion in InGaAs using Kick-out mechanism |
001A31 (1998) |
| Be diffusion in InGaAs layers grown by gas source molecular beam epitaxy |
001A40 (1998) |
| A scintigraphic study of LDL-cholesterol irreversible trapping in a plasma fractionation membrane |
001A42 (1998) |
| A Monte carlo simulation of silicon nitride thin film microstructure in ultraviolet localized-chemical vapor deposition |
001A51 (1997-12) |
| «MECANISMES DE CONDUCTION EN REGIME BALISTIQUE DANS LES DISPOSITIFS ELECTRONIQUES QUANTIQUES» |
001A54 (1997-12) |
| Modélisation non linéaire des Transistors Bipolaires à Hétérojonction pour la conception des circuits micro-ondes. Méthodes de caractérisation associées au modèle |
001A55 (1997-12) |
| MODÉLISATION DU BRUIT D'INTENSITÉ DES LASERS InGaAsP ÉTUDE DE LA TRANSLATION DU BRUIT BASSE FRÉQUENCE DANS LA BANDE DU SIGNAL DE MODULATION |
001A59 (1997-12) |
| Caractérisation et modélisation petit signal et en bruit des transistors bipolaires à hétérojonction aux fréquences micro-ondes |
001A67 (1997-11) |
| Élaboration par dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma (PECVD) de films minces de nitrure de bore (BN) sur phosphure d'indium (InP) |
001B08 (1997-07) |
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001B41 (1997-04) |
| Analyse électromagnétique globale de structures actives microruban à fonctionnement non-linéaire. Conception et caractérisation en bande millimétrique d'antennes imprimées passives et actives sur substrats à forte permittivité |
001B89 (1997) |
| Thermodynamics of n-component systems (n<6): calorimetric measurements and estimation of enthalpies of formation |
001C47 (1997) |
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001C80 (1997) |
| Electrical conduction in POxNyInZ films deposited on InP |
001D98 (1996-06) |
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001E24 (1996-03-01) |
| Kinematic versus dynamic approaches of x-ray diffraction simulation. Application to the characterization of InGaAs/InGaAlAs multiple quantum wells |
001F74 (1996) |
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001F94 (1995-12) |
| Etude et réalisation de transistors HEMT AlInAs/GaInAs/InP pour circuits opto-électroniques à hauts débits |
002032 (1995-08-15) |
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002070 (1995-03) |
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002116 (1995) |
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002121 (1995) |
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002123 (1995) |
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002232 (1994-11-01) |
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002292 (1994-05-01) |
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002438 (1994) |
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002504 (1993-01) |
| Etude des cinétiques de réaction-diffusion dans le système or-indium-plomb. Application à l'évolution morphologique et mécanique de composants électroniques |
002515 (1993) |
| Détection autoradiographique à haute résolution d'émetteurs β-γ dans les tissus biologiques : cas de l'Indium 111 |
002516 (1993) |
| Dépôt de nitrure de bore par PECVD pour son utilisation comme isolant de grille dans les structures MISFET sur InP |
002557 (1993) |
| Solvent contribution to the capacitance and solvent orientation at an uncharged electrode. I: Theoretical aspects |
002609 (1993) |
| Noise in AlGaAs/InGaAs/GaAs pseudomorphic HEMT's from 10 Hz to 18 GHz |
002622 (1993) |
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002763 (1992-06) |
| Mécanismes de conduction à basse température au voisinage de la transition métal-isolant dans le phosphure d'indium |
002845 (1992) |
| Microwave analysis of AlGaAs/InGaAs HEMT using Monte Carlo simulation |
002847 (1992) |
| Metallography of Au-InPb diffusion couples and electronic components soldered with InPb alloys |
002860 (1992) |
| Interest in AlGalnAs on InP for optoelectronic applications |
002866 (1992) |
| Influence of pH on GaInAs photoetching |
002952 (1991) |
| Etude du dopage de type n et p des matériaux GaAs et GaInP |
002997 (1991) |
| Numerical simulation of avalanche photodiodes with guard ring |
002A59 (1991) |
| Corrosion of III-V compounds ; a comparative study of GaAs and InP. II: Reaction scheme and influence of surface properties |
002B01 (1990) |
| The first fabrication of n- and p-type Ga0.49In0.51P/Ga(In)As lattice matched and strained HIGFET structures grown by MOCVD |
002C96 (1988) |
| Travaux présentés/5èmes. Journées nationales microondes, Nice, 22-24 juin 1987 |
002D12 (1988) |
| Détermination simultanée de l'étain et de l'indium dans les milieux biologiques, par redissolution anodique couplée à la polarographie impulsionnelle |
002D56 (1988) |
| Physical parameters of GaInAs/Si3N4 interface states obtained by the conductance method |
002D67 (1988) |
| Neutron powder diffraction study of solid solution Li1+xTi2-xInxP3O12. I: 0.0≤x≤0.4 |
002E35 (1987) |
| Variations des teneurs en elements mineurs (Cd, In, Ge, Ga, Ag, Bi, Se, Hg, Sn) des minerais de Pb-Zn de la province polymetallique des Andes du Perou Central. |
002E74 (1987) |
| Surface charge effects on planar submicrometer GaAs and InP devices |
002F73 (1986) |
| Etude des interactions In3+-ligande par corrélation angulaire perturbée (CAP) |
003089 (1984) |
| Calcul par la méthode de Monte Carlo des profils de dépôts d'énergie de faisceaux d'électrons pulsés dans InP |