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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Thermal stress »
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Thermal stability < Thermal stress < Thermal stresses  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
000015 (2014) Performance improvement of oxide thin-film transistors with a two-step-annealing method
000541 (2012) Experimental Investigation of Border Trap Generation in InGaAs nMOSFETs With Al2O3 Gate Dielectric Under PBTI Stress
000803 (2011) Integration of Solar Cells on Top of CMOS Chips-Part II: CIGS Solar Cells
000896 (2011) Efficiency droop behavior of GaN-based light emitting diodes under reverse-current and high-temperature stress

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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Wicri

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