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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Spectroscopic ellipsometry »
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Spectroscopic analysis < Spectroscopic ellipsometry < Spectroscopy  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000C09 (2010) Dielectric functions and the interband critical points of InAs0.05Sb0.95 film grown by a modified LPE technique
000D36 (2009) Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films
000D62 (2009) Preparation and photoelectric properties of ordered mesoporous titania thin films

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Spectroscopic ellipsometry" \
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