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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Deep level transient spectrometry »
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Deep level < Deep level transient spectrometry < Defect  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000F13 (2009) Direct observation of defects in triple-junction solar cell by optical deep-level transient spectroscopy
002836 (1993) Field effect on thermal emission from the 0.40 eV electron level in InGaP
002870 (1992) High-resolution DLTS and its application to lattice-mismatch-induced deep levels in InGaP
002941 (1989) The bulk and interface defects in electron irradiated InP
002962 (1987) The effect of electron irradiation on interface states of InP MIS Schottky diodes

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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