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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Charge carrier scattering »
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Charge carrier recombination < Charge carrier scattering < Charge carrier trapping  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
001557 (2006) Role of deep traps in carrier generation and transport in differently doped InP wafers
001696 (2005) research on zinc diffusion in undoped InP
002794 (1994) Low temperature electrical transportation behavior of In0.5Ga0.5P
002983 (1986) Inelastic scattering of electrons at the InP-SiO2 interface

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Charge carrier scattering" \
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