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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Keywords » - entrée « Accumulation layers »
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List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000324 (2013) Analysis of Nonradiative Carrier Recombination Processes in InN Films by Mid-infrared Spectroscopy
000711 (2011) Strain accumulation in InAs/InxGa1-xAs quantum dots
000D91 (2009) Observation of the surface circular photogalvanic effect in InN films
000F82 (2008) Weak Localization in Indium Nitride Films
001174 (2008) Electrical properties of InGaN grown by molecular beam epitaxy

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i -k "Accumulation layers" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Accumulation layers" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/biblio.hfd

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

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   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Accumulation layers
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Wicri

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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024