Auteurs
Analysis
Chine
Racine
Analysis
Chine
Repository
Accueil
Racine
Racine

Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « ZHENG YU »
Attention, ce site est en cours de développement !
Attention, site généré par des moyens informatiques à partir de corpus bruts.
Les informations ne sont donc pas validées.
ZHENG XUANMING < ZHENG YU < ZHENG YUN WU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000B19 (2010) Influence of the channel layer thickness on electrical properties of indium zinc oxide thin-film transistor

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Active layer
1Amorphous material
1Cathodic sputtering
1Charge carrier density
1Diffusion
1Electrical characteristic
1Electrical properties
1Free carrier
1Indium oxide
1Interface
1Performance evaluation
1Radiofrequency sputtering
1Room temperature
1Silicon
1Silicon oxides
1Size effect
1Thickness
1Thin film transistor
1Voltage threshold
1Zinc oxide

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/Author.i -k "ZHENG YU" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/Author.i  \
                -Sk "ZHENG YU" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/biblio.hfd

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    Author.i
   |clé=    ZHENG YU
}}
Wicri

This area was generated with Dilib version V0.5.77.
Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024