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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « YUANJIE LI »
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YUANHONG XU < YUANJIE LI < YUANJIN ZHANG  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000240 (2013) H2 annealing effect on the structural and electrical properties of amorphous InGaZnO films for thin film transistors

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Amorphous semiconductors
1Amorphous thin film
1Annealing temperature
1Carrier density
1Carrier mobility
1Electrical conductivity
1Electrical properties
1Electronic properties
1Fourier-transformed infrared spectrometry
1Gallium oxide
1Hall effect
1Hopping conduction
1Hydrogen bonds
1Indium oxide
1Interfaces
1N type conductivity
1Physical vapor deposition
1Potential barrier
1Roughness
1Temperature dependence
1Temperature effects
1Thermal annealing
1Thin film transistors
1Thin films
1Transport processes
1Transport properties
1Vibrational modes
1Zinc oxide

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
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   |index=    Author.i
   |clé=    YUANJIE LI
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