Auteurs
Analysis
Chine
Racine
Analysis
Chine
Repository
Accueil
Racine
Racine

Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « XIAMING ZHU »
Attention, ce site est en cours de développement !
Attention, site généré par des moyens informatiques à partir de corpus bruts.
Les informations ne sont donc pas validées.
XIALEI YE < XIAMING ZHU < XIAN HUANG  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000945 (2011) Annealing effects of In2O3 thin films on electrical properties and application in thin film transistors

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Active material
1Amorphous thin film
1Annealing temperature
1Cathode sputtering
1Controlled atmospheres
1Electrical characteristic
1Electrical properties
1Electron density
1Electron mobility
1Electronic properties
1Grain size
1Growth mechanism
1Indium oxide
1Physical vapor deposition
1Preferred orientation
1Sputter deposition
1Temperature effects
1Thermal annealing
1Thin film devices
1Thin film transistors
1Thin films

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/Author.i -k "XIAMING ZHU" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/Author.i  \
                -Sk "XIAMING ZHU" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Chine/Analysis/biblio.hfd

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    Author.i
   |clé=    XIAMING ZHU
}}
Wicri

This area was generated with Dilib version V0.5.77.
Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024