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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « X. X. Li »
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X. X. Han < X. X. Li < X. X. Liang  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000054 (2013) Unexpected surface implanted layer in static random access memory devices observed by microwave impedance microscope

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Doping
1Electrical conductivity
1Impurity density
1Indium additions
1MIM structures
1Microelectronics
1Microwave conductivity
1Protective coatings
1Random-access storage
1Scanning capacitance microscopy
1Scanning microscope
1Semiconductor devices
1Semiconductor materials
1Surface layers
1Thin films

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |flux=    Chine
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Wicri

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