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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « X. W. Hu »
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X. W. Fan < X. W. Hu < X. W. Liu  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
002345 (1998) Vacancies and impurities in InP studied using positron lifetime and an improved Doppler-broadening spectrometer
002614 (1996) Identification of vacancy-type defects in as-grown InP by positron annihilation rate distribution measurements
002615 (1996) Identification of vacancy-type defects in As-grown InP by positron annihilation rate distribution measurements

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
3Experimental study
3III-V semiconductors
3Indium phosphides
2Binary compounds
2Charge carrier concentration
2III-V compound
2Point defects
2Positron annihilation
2Semiconductor materials
2Vacancies
1Annihilation
1Crystal defects
1Crystallographic site
1Doped materials
1Doppler broadening
1Fermi level
1Impurities
1Iron additions
1Lifetime
1Native state
1Positron probes
1Zinc additions

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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                -Sk "X. W. Hu" \
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   |clé=    X. W. Hu
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