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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « T. P. Chen »
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T. Okutani < T. P. Chen < T. Pang  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000286 (2013) Effect of O2 plasma immersion on electrical properties and transistor performance of indium gallium zinc oxide thin films
001558 (2006) Refractive indices of textured indium tin oxide and zinc oxide thin films

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Thin films
1Atomic force microscopy
1Buffer layer
1Carrier density
1Electrical conductivity
1Electrical properties
1Ellipsometry
1Experimental study
1Gallium oxide
1Hall mobility
1II-VI semiconductors
1Indium oxide
1Indium oxides
1Inorganic compounds
1Plasma deposition
1Radiofrequency sputtering
1Refractive index
1Roughness
1Sputtering
1Surface morphology
1Thin film transistors
1Tin oxides
1Transition element compounds
1Transmittance
1Vacuum arcs
1X-ray photoelectron spectra
1Zinc oxide
1Zinc oxides

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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