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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « JIWANG YAN »
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JIUSONG ZHENG < JIWANG YAN < JIWU LU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
001021 (2008) Surface and subsurface damages in nanoindentation tests of compound semiconductor InP

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Cracking
1Deformation band
1Dislocation density
1Experimental study
1Finite element method
1Hardness test
1High density
1Indentation
1Indium phosphide
1Internal defect
1Microhardness
1Modeling
1Nanohardness
1Nanoindentation
1Nanostructure
1Scanning electron microscopy
1Semiconductor materials
1Single crystal
1Stress analysis
1Surface damage
1Transmission electron microscopy
1Vickers hardness

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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                -Sk "JIWANG YAN" \
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   |area=    IndiumV3
   |flux=    Chine
   |étape=   Analysis
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   |index=    Author.i
   |clé=    JIWANG YAN
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Wicri

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