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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « JIANHUA ZOU »
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JIANHUA ZHANG < JIANHUA ZOU < JIANHUI HOU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000848 (2011) Gate bias stress stability under light irradiation for indium zinc oxide thin-film transistors based on anodic aluminium oxide gate dielectrics

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Aluminium oxide
1Anodizing
1Charge carrier trapping
1Electron mobility
1Gallium tellurides
1Illumination
1Indium Zinc Oxides Mixed
1Stability
1Thin film
1Thin film transistor
1Voltage threshold

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |clé=    JIANHUA ZOU
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Wicri

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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024