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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « HAIYAN AN »
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HAIXING LIAO < HAIYAN AN < HAIYAN DU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
002728 (1995) Characterization of InxGa1-xAs/InP epilayers by X-ray double crystal rocking curve peak profile analysis

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Binary compounds
1Characterization
1Chemical composition
1Diffraction pattern analysis
1Epitaxial layers
1Gallium arsenides
1Heterojunctions
1Indium arsenides
1Indium phosphides
1Rocking curve
1Semiconductor materials
1Solid solutions
1Statistical theory
1Ternary compounds
1Theoretical study
1Thin films
1XRD

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |area=    IndiumV3
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   |clé=    HAIYAN AN
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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024