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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « DUNJUN CHEN »
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DUN ZHANG < DUNJUN CHEN < DUO LI  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000084 (2013) Temperature and gate bias dependence of carrier transport mechanisms in amorphous indium-gallium-zinc oxide thin film transistors
000896 (2011) Efficiency droop behavior of GaN-based light emitting diodes under reverse-current and high-temperature stress

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Active region
1Amorphous material
1Binary compound
1Defect
1Drain current
1Electric stress
1Electrical characteristic
1Enhancement mode
1Fermi level
1Gallium nitride
1Gallium oxide
1High temperature
1High temperature test
1Indium nitride
1Indium oxide
1Light emitting diode
1Localized state
1Low current
1Low temperature
1Multiple quantum well
1Non radiative recombination
1Performance evaluation
1Rate equation
1Series resistance
1Temperature dependence
1Temperature effect
1Ternary compound
1Thermal stress
1Thin film transistor
1Transport process
1Zinc oxide

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   |flux=    Chine
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   |index=    Author.i
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Data generation: Mon Jun 9 10:27:54 2014. Site generation: Thu Mar 7 16:19:59 2024