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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « DONGXIANG LUO »
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DONGSHENG XU < DONGXIANG LUO < DONGXIANG ZHOU  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
000015 (2014) Performance improvement of oxide thin-film transistors with a two-step-annealing method
000848 (2011) Gate bias stress stability under light irradiation for indium zinc oxide thin-film transistors based on anodic aluminium oxide gate dielectrics

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
2Illumination
2Thin film transistor
1Aluminium oxide
1Annealing
1Anodizing
1Charge carrier trapping
1Density of states
1Electric stress
1Electron mobility
1Gallium tellurides
1Indium Zinc Oxides Mixed
1Indium oxide
1Oxide layer
1Performance evaluation
1Semiconductor materials
1Stability
1Step method
1Thermal stress
1Thin film
1Voltage threshold
1Zinc oxide

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |clé=    DONGXIANG LUO
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