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Serveur d'exploration sur l'Indium - Analysis (Chine)

Index « Auteurs » - entrée « C. R. Li »
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C. R. Ding < C. R. Li < C. R. Zhang  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
002734 (1994-12-26) Surface scattering of x rays from InP (001) wafers
002741 (1994-10-01) Determination of surface roughness of InP (001) wafers by x-ray scattering
002880 (1992) Effect of graded layer on the X-ray double-crystal diffraction rocking curve

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
3Experimental study
2Indium phosphides
2Scattering
2Surface structure
1Aluminium Indium Arsenides Mixed
1Chemical composition
1Chemical polishing
1Computer simulation
1Doped materials
1Gradient
1Inorganic compound
1Iron additions
1Mechanical polishing
1Morphology
1Reflectivity
1Rocking curve
1Roughness
1Semiconductor materials
1Spectral line profile
1Sulfur additions
1Thickness
1Thin film
1Wafers
1X radiation
1X ray diffraction
1XRD

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EXPLOR_STEP=IndiumV3/Data/Chine/Analysis

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   |clé=    C. R. Li
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