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Serveur d'exploration sur l'Indium - Curation (Accueil)

Index « Keywords » - entrée « Secondary ion mass spectrometry (SIMS) »
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Secondary electron < Secondary ion mass spectrometry (SIMS) < Selective area growth  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000796 (1996) The Role of oxygen diffusion in photoinduced changes of the electronic and optical properties in amorphous indium oxide

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EXPLOR_STEP=IndiumV1/Data/Main/Curation

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Main/Curation/KwdEn.i -k "Secondary ion mass spectrometry (SIMS)" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Main/Curation/KwdEn.i  \
                -Sk "Secondary ion mass spectrometry (SIMS)" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Main/Curation/biblio.hfd

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{{Explor lien
   |wiki=   *** parameter Area/wikiCode missing *** 
   |area=    IndiumV1
   |flux=    Main
   |étape=   Curation
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Secondary ion mass spectrometry (SIMS)
}}
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