| Sensitivity analysis < Sensitivity and Specificity < Sensitivity resistance | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 4.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 000227 (2008) | Jian Liang [États-Unis] ; Daniel Dementhon ; David Doermann | Geometric rectification of camera-captured document images. |
| 000319 (2007) | Michael S. Brown [Singapour] ; MINGXUAN SUN [États-Unis] ; RUIGANG YANG [États-Unis] ; LIN YUN [États-Unis] ; W. Brent Seales [États-Unis] | Restoring 2D content from distorted documents |
| 000450 (2004) | Xilin Chen [États-Unis] ; Jie Yang ; Jing Zhang ; Alex Waibel | Automatic detection and recognition of signs from natural scenes. |
| 000599 (2001) | Takehiro Yamashita [États-Unis] ; Shunji Kasaoka [États-Unis] ; Rirei Son [États-Unis] ; Ian L. Gordon [États-Unis] ; Rahil Khan [États-Unis] ; John Neet [États-Unis] ; Allan D. Hedrick [États-Unis] ; Jonathan M. Tobis [États-Unis] | Optical coherent reflectometry: A new technique to guide invasive procedures |
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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Ticri/CIDE/explor/OcrV1/Data/USA/Analysis
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/USA/Analysis/KwdEn.i -k "Sensitivity and Specificity"
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/USA/Analysis/KwdEn.i \
-Sk "Sensitivity and Specificity" \
| HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/USA/Analysis/biblio.hfd
Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri
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|wiki= Ticri/CIDE
|area= OcrV1
|flux= USA
|étape= Analysis
|type= indexItem
|index= KwdEn.i
|clé= Sensitivity and Specificity
}}
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