VSST 2012 Ajaccio
De VSST
Révision datée du 24 mai 2012 à 11:46 par imported>Jacques Ducloy (→Atelier Veille technologique)
VSST 2012 Ajaccio | |
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VSST 2012 Ajaccio
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Début : | May 24 2012 |
Fin : | May 25 2012 |
Site : | Site |
Ville : | Ajaccio |
Pays : | France |
Évènement en série : Manifestations VSST
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La troisième édition du séminaire VSST (Veille stratégique scientifique et technologique) a été programmée pour le mois de mai 2012 à Ajaccio (France).
Sommaire
Thème du séminaire
Les conférences VSST (colloques et séminaires) rassemblent depuis 1996 les acteurs publics et privés qui sont sensibilisés à la veille stratégique et plus largement à l’intelligence économique. Les universités, les administrations, les entreprises petites ou grandes sont invitées à participer à cette manifestation afin d’échanger points de vue, méthodologies, outils et retours d’expériences.
En mai 2012, nous allons particulièrement privilégier les axes suivants :
- Métadonnées et interopérabilité
- Traitement des informations hétérogènes
- Sécurité de l’accès aux données et aux traitements
- Analyse en ligne
- Fouille de données temporelles
- Cartographies
- Réseaux sociaux
- Communautés d’intelligence en ligne, Web Intelligence
- Multilinguisme
- Géostratégie
- Les nouvelles données structurées du Web
- Les nouvelles sources de brevets (Chine, Corée, Japon, Inde, …)
- Apports du Web 2.0 et du Web 3.0
- Apports de la téléphonie mobile
- Innovations dans le processus de décision
- Gestion du risque et gouvernance
Comités
Comité scientifique
- Président du comité scientifique
- Bernard Dousset, IRIT-SIG/EVI, Université Paul Sabatier (Toulouse 3)
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Programme
Atelier Veille technologique
- Président :
- Jean Charles Lamirel
- "Détecter des opportunités d'innovation : la cartographie brevet au service du chercheur", Séverine Perbal et Aurélie Barbe, Centre de recherche public Henri Tudor, 29, avenue John Fitzgerald Kennedy, L-1855 Luxembourg Kirchberg (Luxembourg).
- "Aide à l'expertise des brevets par alignement avec les publications scientifiques", Kafil Hajlaoui, Pascal Cuxac, Jean Charles Lamirel et Claire François, INIST CNRS, Vandœuvre-lès-Nancy, (France), INRIA team SYNALP-LORIA, Vandœuvre-lès-Nancy, (France).
- "L'analyse des brevets, un problème de format", Bernard DOUSSET et Nesrine YAHI, Université de Toulouse, Institut de Recherche en Informatique de Toulouse - IRIT, Système d’Information Généralisés - SIG, 118, route de Narbonne, 31062 Toulouse cedex (France).
- "Analyse de Brevets dans les Domaines des Plastiques: une première approche", Marisela RODRIGUEZ SALVADOR et Mario Alberto TELLO BANUELOS, Instituto Tecnologico y de Estudos Superiores de Monterrey, Centre de Qualité et Manufacture, Campus Monterrey (Mexique).
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