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Index « ISSN » - entrée « 0161-0457 »
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0160-791X < 0161-0457 < 0161-3499  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 7.
Ident.Authors (with country if any)Title
000507 (2011) Dale E. Newbury [États-Unis] ; Nicholas W. M. Ritchie [États-Unis]Can X‐ray spectrum imaging replace backscattered electrons for compositional contrast in the scanning electron microscope?
000B99 (2008) Proceeding of SCANNING 2008
000C00 (2008) Proceeding of SCANNING 2008
001042 (2006) Proceedings of SCANNING 2006 April 25–27, 2006 Washington, D.C., USA
001260 (2005) Dale E. Newbury [États-Unis]X‐ray spectrometry and spectrum image mapping at output count rates above 100 kHz with a silicon drift detector on a scanning electron microscope
001295 (2005) Proceedings of SCANNING 2005 April 5–7, 2005 Monterey, Calif., USA
004231 (1983) E. Wolfgang [Allemagne]Electron beam testing: Problems in practice

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