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Serveur d'exploration sur l'OCR - Curation (Istex)

Index « Keywords » - entrée « scanning electron microscopy »
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scanning electron microscope silicon drift detector < scanning electron microscopy < scenario analysis  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000092 (2011) Dale E. Newbury [États-Unis] ; Nicholas W. M. Ritchie [États-Unis]Can X‐ray spectrum imaging replace backscattered electrons for compositional contrast in the scanning electron microscope?

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Ticri/CIDE/explor/OcrV1/Data/Istex/Curation

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Curation/KwdEn.i -k "scanning electron microscopy" 

HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Curation/KwdEn.i  \
                -Sk "scanning electron microscopy" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Curation/biblio.hfd

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