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Serveur d'exploration H2N2 - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Propriété électrique »
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Propriété diélectrique < Propriété électrique < Protection  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000045 (2006) QIQUAN FENG [États-Unis] ; Caspar J. Mcconville [États-Unis] ; Doreen D. Edwards [États-Unis] ; Daniel E. Mccauley [États-Unis] ; Mike Chu [États-Unis]Effect of oxygen partial pressure on the dielectric properties and microstructures of cofired base-metal-electrode multilayer ceramic capacitors

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Caspar J. Mcconville
1Daniel E. Mccauley
1Doreen D. Edwards
1Mike Chu
1QIQUAN FENG

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

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Data generation: Tue Apr 14 19:59:40 2020. Site generation: Thu Mar 25 15:38:26 2021