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Index « Keywords » - entrée « Electron diffraction »
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Electron beams < Electron diffraction < Endoprosthesis  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
000116 (2010) Edgar F. Rauch [France] ; Joaquin Portillo [Belgique, Espagne] ; Stavros Nicolopoulos [Belgique] ; Daniel Bultreys [Belgique] ; Sergei Rouvimov [Espagne] ; Peter Moeck [États-Unis]Automated nanocrystal orientation and phase mapping in the transmission electron microscope on the basis of precession electron diffraction

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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Belgique/explor/OpenAccessBelV2/Data/France/Analysis

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/France/Analysis/KwdEn.i  \
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