7855 And NotHUIFENG QIAN
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 002477 | R. A. Berechman [États-Unis] ; S. Chung [États-Unis] ; G. Chung [États-Unis] ; E. Sanchez [États-Unis] ; N. A. Mahadik [États-Unis] ; R. E. Stahlbush [États-Unis] ; M. Skowronski [États-Unis] | Trapezoid defect in 4H-SiC epilayers |
| 002783 | Wooseok Kim [Corée du Sud] ; Geunjae Kwak [Corée du Sud] ; Minbok Jung [Corée du Sud] ; Sam K. Jo [Corée du Sud] ; James B. Miller [États-Unis] ; Andrew J. Gellman [États-Unis] ; KIJUNG YONG [Corée du Sud] | Surface and Internal Reactions of ZnO Nanowires: Etching and Bulk Defect Passivation by H Atoms |
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