Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « PascalFr.i » - entrée « Piégeage porteur charge »
Attention, ce site est en cours de développement !
Attention, site généré par des moyens informatiques à partir de corpus bruts.
Les informations ne sont donc pas validées.
Piégeage optique < Piégeage porteur charge < Piémont  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 7.
Ident.Authors (with country if any)Title
001289 (2012) Tracey M. Clarke [Australie] ; Jeff Peet [États-Unis] ; Andrew Nattestad [Australie] ; Nicolas Drolet [États-Unis] ; Gilles Dennler [France] ; Christoph Lungenschmied [États-Unis] ; Mario Leclerc [Canada] ; Attila J. Mozer [Australie]Charge carrier mobility, bimolecular recombination and trapping in polycarbazole copolymer:fullerene (PCDTBT:PCBM) bulk heterojunction solar cells
002515 (2010) B. C. Johnson [Australie] ; J. C. Mccallum [Australie] ; L. H. Willems Van Beveren [Australie] ; E. Gauja [Australie]Deep level transient spectroscopy study for the development of ion-implanted silicon field-effect transistors for spin-dependent transport
002B32 (2009) M. Lancry [France, Australie] ; N. Groothoff ; S. Guizard ; W. Yang ; B. Poumellec [France] ; P. G. Kazansky ; J. CanningFemtosecond laser direct processing in wet and dry silica glass
003F03 (2006) B. Kunert [Allemagne] ; K. Volz [Allemagne] ; I. Nemeth [Allemagne] ; W. Stolz [Allemagne]Luminescence investigations of the GaP-based dilute nitride Ga(NAsP) material system
004165 (2006) A. Nazarov [Ukraine, Allemagne] ; I. Osiyuk [Ukraine, Allemagne] ; I. Tyagulskii [Ukraine] ; V. Lysenko [Ukraine] ; S. Prucnal [Pologne] ; J. Sun [Allemagne] ; W. Skorupa [Allemagne] ; R. A. Yankov [Allemagne]Charge trapping phenomena in high-efficiency metal-oxide-silicon light-emitting diodes with ion-implanted oxide
004639 (2005) N. Stojadinovic [République tchèque] ; I. Manic [République tchèque] ; V. Davidovic [République tchèque] ; D. Dankovic [République tchèque] ; S. Djoric-Veljkovic [République tchèque] ; S. Golubovic [République tchèque] ; S. Dimitrijev [Australie]Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs
006279 (1998) R. B. Miller [France, Australie] ; T. Baron [France] ; R. T. Cox [France] ; K. Saminadayar [France]Relative absorption strengths of neutral and negatively charged excitons in CdTe quantum wells

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Asie/explor/AustralieFrV1/Data/PascalFrancis/Checkpoint
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/PascalFrancis/Checkpoint/PascalFr.i -k "Piégeage porteur charge" 
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/PascalFrancis/Checkpoint/PascalFr.i  \
                -Sk "Piégeage porteur charge" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/PascalFrancis/Checkpoint/biblio.hfd 

Pour mettre un lien sur cette page dans le réseau Wicri

{{Explor lien
   |wiki=    Wicri/Asie
   |area=    AustralieFrV1
   |flux=    PascalFrancis
   |étape=   Checkpoint
   |type=    indexItem
   |index=    PascalFr.i
   |clé=    Piégeage porteur charge
}}

Wicri

This area was generated with Dilib version V0.6.33.
Data generation: Tue Dec 5 10:43:12 2017. Site generation: Tue Mar 5 14:07:20 2024