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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Technologie faisceau ion focalisé »
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List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
003C63 (2006) I. Sychugov [Suède] ; J. Lu [Suède] ; N. Elfström [Suède] ; J. Linnros [Suède]Structural imaging of a Si quantum dot : Towards combined PL and TEM characterization
004166 (2006) O. Jambois [Espagne] ; A. Vila [Espagne] ; P. Pellegrino [Espagne] ; J. Carreras [Espagne] ; A. Pbrez-Rodriguez [Espagne] ; B. Garrido [Espagne] ; C. Bonafos [France] ; G. Benassayag [France]Charge transport along luminescent oxide layers containing Si and SiC nanoparticles

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
1A. Pbrez-Rodriguez
1A. Vila
1B. Garrido
1C. Bonafos
1G. Benassayag
1I. Sychugov
1J. Carreras
1J. Linnros
1J. Lu
1N. Elfström
1O. Jambois
1P. Pellegrino

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   |index=    FC03.fr.i
   |clé=    Technologie faisceau ion focalisé
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