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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Microscopie confocale »
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Microscopie champ proche < Microscopie confocale < Microscopie contraste phase  Facettes :

List of bibliographic references

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Ident.Authors (with country if any)Title
001495 (2011) Anand Jain [Irlande (pays)] ; Giulio Gazzola [Irlande (pays)] ; Aurora Panzera [Irlande (pays)] ; Michele Zanoni [Irlande (pays)] ; Enrico Marsili [Irlande (pays)]Visible spectroelectrochemical characterization of Geobacter sulfurreducens biofilms on optically transparent indium tin oxide electrode
002453 (2010) G. Dantelle [France] ; A. Slablab [France] ; L. Rondin [France] ; F. Laine [France] ; F. Carrel [France] ; Ph. Bergonzo [France] ; S. Perruchas [France] ; T. Gacoin [France] ; F. Treussart [France] ; J.-F. Roch [France]Efficient production of NV colour centres in nanodiamonds using high-energy electron irradiation
002619 (2010) César Mattei [France] ; Michel Marquais [France] ; Sébastien Schlumberger [France] ; Jordi Molgo [France] ; Jean-Paul Vernoux [France] ; Richard J. Lewis [Australie] ; Evelyne Benoit [France]Analysis of Caribbean ciguatoxin-1 effects on frog myelinated axons and the neuromuscular junction
002A59 (2009) Ian J. Watson [Australie] ; Klaus-Dieter Liss [Australie] ; Helmut Clemens [Autriche] ; Wilfried Wallgram [Autriche] ; Thomas Schmoelzer [Autriche] ; Thomas C. Hansen [France] ; Mark Reid [Australie]In Situ Characterization of a Nb and Mo Containing γ-TiAl Based Alloy Using Neutron Diffraction and High-Temperature Microscopy
003483 (2008) Sylvain Girard [France] ; Youcef Ouerdane [France] ; Claude Marcandella [France] ; Thierry Robin [France] ; Aziz Boukenter [France] ; Benoit Cadier [France] ; Jean-Pierre Meunier [France] ; Blandine Tortech [France] ; Patrice Crochet [France]10 keV X-ray Radiation effects on Yb-and Er/Yb-doped optical fibers : a micro-luminescence study
003D76 (2006) A. Arbouet [France] ; M. Carrada [France] ; F. Demangeot [France] ; V. Paillard [France] ; G. Benassayag [France] ; C. Bonafos [France] ; A. Claverie [France] ; S. Schamm [France] ; C. Dumas [France] ; J. Grisolia [France] ; M. A. F. Van Den Boogaart [Suisse] ; J. Brugger [Suisse] ; L. Doeswijk [Suisse]Photoluminescence characterization of few-nanocrystals electronic devices
005619 (2001) G. Boyer [France] ; V. Sarafis [Australie]Two pinhole superresolution using spatial filters

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
1A. Arbouet
1A. Claverie
1A. Slablab
1Anand Jain
1Aurora Panzera
1Aziz Boukenter
1Benoit Cadier
1Blandine Tortech
1C. Bonafos
1C. Dumas
1Claude Marcandella
1César Mattei
1Enrico Marsili
1Evelyne Benoit
1F. Carrel
1F. Demangeot
1F. Laine
1F. Treussart
1G. Benassayag
1G. Boyer
1G. Dantelle
1Giulio Gazzola
1Helmut Clemens
1Ian J. Watson
1J. Brugger
1J. Grisolia
1J.-F. Roch
1Jean-Paul Vernoux
1Jean-Pierre Meunier
1Jordi Molgo
1Klaus-Dieter Liss
1L. Doeswijk
1L. Rondin
1M. A. F. Van Den Boogaart
1M. Carrada
1Mark Reid
1Michel Marquais
1Michele Zanoni
1Patrice Crochet
1Ph. Bergonzo
1Richard J. Lewis
1S. Perruchas
1S. Schamm
1Sylvain Girard
1Sébastien Schlumberger
1T. Gacoin
1Thierry Robin
1Thomas C. Hansen
1Thomas Schmoelzer
1V. Paillard
1V. Sarafis
1Wilfried Wallgram
1Youcef Ouerdane

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