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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « Auteurs » - entrée « Patrick Chapon »
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Patrick Cavanagh < Patrick Chapon < Patrick Cohendet  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 5.
Ident.Authors (with country if any)Title
000600 (2013) Michael E. A. Warwick [Royaume-Uni] ; Geoffrey Hyett [Royaume-Uni] ; Ian Ridley [Australie] ; Fathima R. Laffir [Irlande (pays)] ; Celia Olivero [France] ; Patrick Chapon [France] ; Russell Binions [Royaume-Uni]Synthesis and energy modelling studies of titanium oxy-nitride films as energy efficient glazing
004D61 (2003) Richard Payling [Suisse, Australie] ; Max Aeberhard [Suisse] ; Johann Michler [Suisse] ; Cyril Authier [France] ; Patrick Chapon [France] ; Thomas Nelis [France] ; Leanne Pitchford [France]Theory of relative sputtering rates in GDOES
004D90 (2003) Philippe Le Coustumer [France] ; Mikael Motelica-Heino [France] ; Patrick Chapon [France] ; Hugues Francois Saint-Cyr [États-Unis] ; Richard Payling [Australie]Surface characterization and depth profile analysis of glasses by r.f. GDOES
005512 (2002) Richard Payling [Australie] ; Patrick Chapon [France] ; Olivier Bonnot [France] ; Philippe Belenguer [France] ; Philippe Guillot [France] ; Leanne C. Pitchford [France] ; Laurent Therese [France] ; Johann Michler [Suisse] ; Max Aeberhard [Suisse]Characterising the radio frequency plasma source for glow discharge optical emission spectroscopy
005537 (2002) Patrick Chapon [France] ; Richard Payling [Australie] ; Ken Shimizu [Japon]Analysis of hard disks with radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry

List of associated FC03.fr.i

Nombre de
documents		Descripteur
5Décharge luminescente
2Analyse surface
2Microscopie électronique balayage
2Pulvérisation irradiation
2Radiofréquence
2Spectre optique
2Spectre émission
2Spectrométrie émission
2Verre
16143F
17920R
18170J
1Acier fortement allié
1Al Zn
1Alliage AlZn
1Aluminium alliage
1Ammoniac
1Analyse chimique
1Analyse multiélément
1Analyse qualitative
1Chimie analytique
1Consommation électricité
1Contrôle qualité
1Couche mince
1Diffraction RX
1Disque magnétique
1Décharge haute fréquence
1Dépôt métal
1Economies d'énergie
1Electronique faible puissance
1Elément minéral
1Emission optique
1Energie minimale
1Energie potentielle
1Etude comparative
1Etude expérimentale
1Etude théorique
1Facteur réflexion
1Fonte
1Industrie électronique
1Microscopie électronique transmission
1Microstructure
1Miroir chaleur
1Modélisation
1Nitrure de titane
1Pression atmosphérique
1Produit normalisé
1Profil profondeur
1Propriété optique
1Revêtement
1Revêtement protecteur
1Réaction chimique
1Simulation système
1Source ion plasma
1Spectre RX
1Spectre photoélectron RX
1Spectrométrie dispersive
1Spectrométrie optique
1TiN
1Titane
1Traitement surface
1Zinc alliage

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   |index=    Author.i
   |clé=    Patrick Chapon
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