| E. Bozzo < E. Br Uer-Krisch < E. Brain | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 001A07 (2011) | J. A. Bartz [États-Unis] ; G. J. Sykora [États-Unis] ; E. Br Uer-Krisch [France] ; M. S. Akselrod [États-Unis] | Imaging and dosimetry of synchrotron microbeam with aluminum oxide fluorescent detectors |
| 001B74 (2011) | M. L. F. Lerch [Australie] ; M. Petasecca [Australie] ; A. Cullen [Australie] ; A. Hamad [Australie] ; H. Requardt [France] ; E. Br Uer-Krisch [France] ; A. Bravin [France] ; V. L. Perevertaylo [Ukraine] ; A. B. Rosenfeld [Australie] | Dosimetry of intensive synchrotron microbeams |
List of associated FC03.fr.i
| Nombre de documents | Descripteur |
|---|---|
| 2 | Rayon X |
| 2 | Rayonnement |
| 2 | Résolution spatiale |
| 2 | Synchrotron |
| 2 | Vallée |
| 1 | Alumine |
| 1 | Courant |
| 1 | Cristal |
| 1 | Diffraction |
| 1 | Endommagement |
| 1 | Fluorescence |
| 1 | Méthode Monte Carlo |
| 1 | Profondeur |
| 1 | Silicium |
| 1 | Simulation |
| 1 | Stockage |
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