F. Meurice < F. Meyer < F. Meza-Urzúa | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 3.Ident. | Authors (with country if any) | Title |
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00D426 (1999) | M. Mamor [Afrique du Sud] ; F. D Auret [Afrique du Sud] ; S. A Goodman [Afrique du Sud] ; J. Brink [Afrique du Sud] ; M. Hayes [Afrique du Sud] ; F. Meyer [France] ; A. Vantomme [Belgique] ; G. Langouche [Belgique] ; P. N. K Deenapanray [Australie] | Deep level properties of erbium implanted epitaxially grown SiGe |
00DE92 (1997) | E. Finkman [Israël] ; H. Rücker [Allemagne] ; F. Meyer [France] ; S. D. Prawer [Australie] ; D. Bouchier [France] ; J. Boulmer [France] ; S. Bodnar [France] ; J. L. Regolini [France] | Local strains in Si1− x − y Ge x C y alloys as deduced from vibrational frequencies |
00E128 (1997) | E. Finkman [Israël] ; H. Rucker [Allemagne] ; F. Meyer [France] ; S. D. Prawer [Australie] ; D. Bouchier [France] ; J. Boulmer [France] ; S. Bodnar [France] ; J. L. Regolini [France] | Local strains in Si1-x-yGexCy alloys as deduced from vibrational frequencies |
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