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Index « PascalFr.i » - entrée « Système mesure »
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List of bibliographic references indexed by Système mesure

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
004164 (2014) T. D. Bradley [Royaume-Uni, France] ; J. Jouin [France] ; J. J. Mcferran [Australie, France] ; P. Thomas [France] ; F. Gerome [France] ; F. Benabid [Royaume-Uni, France]Extended Duration of Rubidium Vapor in Aluminosilicate Ceramic Coated Hypocycloidal Core Kagome HC-PCF
007528 (2010) Peter Tuthill [Australie] ; Sylvestre Lacour [France] ; Paola Amico [Allemagne] ; Michael Ireland [Australie] ; Barnaby Norris [Australie] ; Paul Stewart [Australie] ; Tom Evans [Australie] ; Adam Kraus [États-Unis] ; Chris Lidman [Australie] ; Emanuela Pompei [Allemagne] ; Nicholas Kornweibel [Allemagne]Sparse Aperture Masking (SAM) at NAOS/CONICA on the VLT
007751 (2010) Rainer Lenzen [Allemagne] ; Bernhard R. Brandl [Pays-Bas] ; Eric Pantin [France] ; Alistair Glasse [Royaume-Uni] ; Joris Blommaert [Belgique] ; Lars Venema [Pays-Bas] ; Rik Ter Horst [Pays-Bas] ; Ad Oudenhuysen [Pays-Bas] ; Frank Molster [Pays-Bas] ; Ralf Siebenmorgen [Allemagne] ; Hermann Boehnhardt [Allemagne] ; Ewine Van Dishoeck [Pays-Bas] ; Paul Van Der Werf [Pays-Bas] ; Wolfgang Brandner [Allemagne] ; Thomas Henning [Allemagne] ; Stefan Hippler [Allemagne] ; Pierre-Olivier Lagage [France] ; Toby J. T. Moore [Royaume-Uni] ; Maarten Baes [Belgique] ; Christoffel Waelkens [Belgique] ; Chris Wright [Australie] ; Hans Ulrich K Ufl [Allemagne] ; Sarah Kendrew [Pays-Bas] ; Remko Stuik [Pays-Bas] ; Laurent Jolissaint [Pays-Bas]METIS: System engineering and optical design of the mid-infrared E-ELT instrument
00DB54 (1992) M. Vella [Australie] ; T. Veneruso [France] ; P. Le Foll ; T. Mcevoy ; A. ReissThe nuts and bolts of well testing

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