Oxide superconductors < Oxide thickness < Oxide variability figure | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.Ident. | Authors (with country if any) | Title |
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000463 (2012) | Enrico Prati [Italie] ; Marco De Michielis [Italie] ; Matteo Belli [Italie] ; Simone Cocco [Italie] ; Marco Fanciulli [Italie] ; Dharmraj Kotekar-Patil [Allemagne] ; Matthias Ruoff [Allemagne] ; Dieter P. Kern [Allemagne] ; David A. Wharam [Allemagne] ; Jan Verduijn [Pays-Bas, Australie] ; Giuseppe C. Tettamanzi [Pays-Bas, Australie] ; Sven Rogge [Pays-Bas, Australie] ; Benoit Roche [France] ; Romain Wacquez [France] ; Xavier Jehl [France] ; Maud Vinet [France] ; Marc Sanquer [France] | Few electron limit of n-type metal oxide semiconductor single electron transistors |
000E65 (2009) | A. Picard [France] ; N. Bignell [Australie] ; M. Borys [Allemagne] ; S. Downes [Royaume-Uni] ; S. Mizushima [Japon] | Mass comparison of the 1kg silicon sphere AVO3 traceable to the International Prototype K |
Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)
EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Asie/explor/AustralieFrV1/Data/Istex/Checkpoint
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Checkpoint/Teeft.i -k "Oxide thickness"
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Checkpoint/Teeft.i \ -Sk "Oxide thickness" \ | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Istex/Checkpoint/biblio.hfd
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