Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Analysis (Allemagne)

Index « Keywords » - entrée « Thickness »
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List of bibliographic references

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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Asie/explor/AustralieFrV1/Data/Allemagne/Analysis
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Allemagne/Analysis/KwdEn.i -k "Thickness" 
HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/Allemagne/Analysis/KwdEn.i  \
                -Sk "Thickness" \
         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Allemagne/Analysis/biblio.hfd 

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{{Explor lien
   |wiki=    Wicri/Asie
   |area=    AustralieFrV1
   |flux=    Allemagne
   |étape=   Analysis
   |type=    indexItem
   |index=    KwdEn.i
   |clé=    Thickness
}}

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