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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Analysis (Allemagne)

Index « Auteurs » - entrée « V. Hnatowicz »
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V. Hirsh < V. Hnatowicz < V. Ho Ejší  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
002B76 (1996) D. Fink [Allemagne] ; R. Klett [Allemagne] ; Xuanwen Hu [Allemagne] ; M. Müller [Allemagne] ; G. Schiwietz [Allemagne] ; G. Xiao [Allemagne] ; L. T. Chadderton [Australie] ; L. Wang [Allemagne] ; C. Mathis [France] ; V. Hnatowicz [République tchèque] ; J. Vacik [République tchèque]Characterization of aged latent ion tracks in polyimide
002B77 (1996) D. Fink [Allemagne] ; R. Klett [Allemagne] ; V. Hnatowicz [République tchèque] ; J. Vacik [République tchèque] ; C. Mathis [France] ; H. Omichi [Japon] ; F. Hosoi [Japon] ; L. T. Chadderton [Australie] ; L. Wang [Allemagne]Bonding of dopants to irradiated polymers
002B80 (1996) D. Fink [Allemagne] ; R. Klett [Allemagne] ; C. Mathis [France] ; J. Vacik [République tchèque] ; V. Hnatowicz [République tchèque] ; L. T. Chadderton [Australie]Precipitation of dissolved alkali salts and fullerenes on surfaces of doped porous matter
002C05 (1995) D. Fink [Allemagne] ; R. Klett [Allemagne] ; C. Mathis [France] ; J. Vacik [République tchèque] ; V. Hnatowicz [République tchèque] ; L. T. Chadderton [Australie]Depth profiles of fullerene in ion irradiated polyimide

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
4Depth profiles
4Dopant
4Neutron depth
4Polymer
4Room temperature
3Chadderton
3Depth distributions
3Dopant uptake
3Doping
3Fink
3Fullerene
3Hnatowicz
3Instr
3Meth
3Nucl
2Aqueous licl solution
2Depth distribution
2Dopant uptake capability
2Dopants
2Energetic ions
2Free volume
2Fullerene molecules
2Fullerene tracer
2Heavy ions
2Klett
2Phys
2Polyimide
2Shallow traps
2Tracer
1Ageing process
1Ambient
1Ambient atmosphere
1Amorphous phase
1Aqueous licl
1Carbonaceous clusters
1Charge carriers
1Collisional defects
1Concentration profiles
1Conductivity
1Conductivity measurements
1Deep traps
1Defect
1Depth profile inhomogeneity
1Different porcelain samples
1Diffusion process
1Dopant concentration
1Dopant depth distributions
1Dopant depth profiles
1Dopant fraction
1Dopant precipitation
1Dopant solution
1Dopant surface enrichment
1Doped
1Doping time
1Electronic defects
1Energy balance
1Energy density
1Energy transfer
1Faint traces
1Fatal influence
1Fluence
1Fullerene doping
1Fullerene mobility
1Fullerene molecule
1Fullerene production
1Fullerene solution
1Fullerene solutions
1Greater depths
1High fluence
1High porosity
1Indiffusing oxygen
1Intrinsic defects
1Intrinsic traps
1Ion
1Irradiation dopant
1Leaching
1Lic1
1Lic1 solution
1Light ions
1Lithium
1Neutron
1Organic monomers
1Organic solutions
1Other hand
1Other words
1Oxygen content
1Polymeric
1Polymeric chains
1Polymeric diffusion model
1Porcelain
1Porcelain samples
1Porosity
1Precipitation
1Precipitation parameter
1Preparation procedure
1Pristine
1Pristine material
1Pristine polymer
1Pristine polymers
1Radiat

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   |clé=    V. Hnatowicz
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