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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Analysis (Allemagne)

Index « Auteurs » - entrée « T. Schultz »
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T. Schröder < T. Schultz < T. Schulz  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
002C25 (1994) K. Borer [Suisse] ; D. J. Munday [Royaume-Uni] ; M. A. Parker [Royaume-Uni] ; F. Anghinolfi [Suisse] ; P. Aspell [Suisse] ; M. Campbell [Suisse] ; A. Chilingarov [Suisse] ; P. Jarron [Suisse] ; E. H. M. Heijne [Suisse] ; J. C. Santiard [Suisse] ; P. Scampoli [Suisse] ; H. Verweij [Suisse] ; C. Gössling [Allemagne] ; B. Lisowski [Allemagne] ; A. Reichold [Allemagne] ; R. Spiwoks [Allemagne] ; E. Tsesmelis [Allemagne] ; K. Benslama [Suisse] ; R. Bonino [Suisse] ; A. G. Clark [Suisse] ; C. Couyoumtzelis [Suisse] ; H. Kambara [Suisse] ; X. Wu [Suisse] ; E. Fretwurst [Allemagne] ; G. Lindstroem [Allemagne] ; T. Schultz [Allemagne] ; R. A. Bardos [Australie] ; G. W. Gorfine [Australie] ; G. F. Moorhead [Australie] ; G. N. Taylor [Australie] ; S. N. Tovey [Australie] ; J. H. Bibby [Royaume-Uni] ; R. J. Hawkings [Royaume-Uni] ; N. Kundu [Royaume-Uni] ; A. Weidberg [Royaume-Uni] ; D. Campbell [Royaume-Uni] ; P. Murray [Royaume-Uni] ; P. Seller [Royaume-Uni] ; J. Teiger [France]Electronics and readout of a large area silicon detector for LHC

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Analog
1Analog memory
1Analog memory chip
1Analog memory concept
1Beam profile
1Borer
1Capacitor
1Channel prototype
1Chips
1Clock period
1Clock rate
1Control logic
1Data acquisition
1Data transfer
1Detector
1Digitized
1Digitized data
1Electronic noise
1Experimental apparatus
1Fibre
1Fifo
1Final configuration
1First level
1High energy particle physics
1Instr
1Linear conversion
1Memory controller
1Memory management
1Meth
1Module
1Nucl
1Nucl instr
1Nuclear physics
1Optical link
1Peak readout times
1Phys
1Possible interference
1Power consumption
1Prototype
1Readout
1Readout architecture
1Readout concept
1Readout controller
1Readout electronics
1Reference voltages
1Second level
1Signal level
1Signal processing electronics
1Silicon
1Silicon detector
1Silicon detectors
1Sparse data readout
1Sparse data scan
1Test beam
1Time column
1Topical seminar
1Total readout time

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