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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Analysis (Allemagne)

Index « Auteurs » - entrée « J. Michler »
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J. Michaelis < J. Michler < J. Mieszkowski  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
002772 (2004) J. Michler [Suisse] ; M. Aeberhard [Suisse] ; D. Velten [Allemagne] ; S. Winter [Allemagne] ; R. Payling [Suisse, Australie] ; J. Breme [Allemagne]Depth profiling by GDOES: application of hydrogen and d.c. bias voltage corrections to the analysis of thin oxide films

List of associated KwdEn.i

Nombre de
documents		Descripteur
1Anodizing
1Chemical composition
1Crystal growth from solutions
1Depth profiles
1Emission spectroscopy
1Experimental study
1Glow discharge optical emission spectroscopy
1Glow discharges
1Oxidation
1Oxide layer
1Sol-gel process
1Thickness
1Thin films

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   |clé=    J. Michler
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