| Heiko Schill < Heiko Schröder < Heiko Schöder | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 2.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 002204 (2008) | Markus Mezger [Allemagne] ; Heiko Schröder [Allemagne] ; Harald Reichert [Allemagne] ; Sebastian Schramm [Allemagne] ; John S. Okasinski [Allemagne] ; Sebastian Schöder [Allemagne, France] ; Veijo Honkim Ki [France] ; Moshe Deutsch [Israël] ; Benjamin M. Ocko [États-Unis] ; John Ralston [Australie] ; Michael Rohwerder [Allemagne] ; Martin Stratmann [Allemagne] ; Helmut Dosch [Allemagne] | Molecular Layering of Fluorinated Ionic Liquids at a Charged Sapphire (0001) Surface |
| 002438 (2006) | Markus Mezger [Allemagne] ; Harald Reichert [Allemagne] ; Sebastian Schöder [Allemagne, France] ; John Okasinski [Allemagne, France] ; Heiko Schröder [Allemagne] ; Helmut Dosch [Allemagne] ; Dennis Palms [Australie] ; John Ralston [Australie] ; Veijo Honkim Ki [France] | High-resolution in situ x-ray study of the hydrophobic gap at the water–octadecyl-trichlorosilane interface |
List of associated KwdEn.i
| Nombre de documents | Descripteur |
|---|---|
| 1 | Fluorination |
| 1 | Interfaces |
| 1 | Ionic liquid |
| 1 | Layering |
| 1 | Liquid structure |
| 1 | Molecular liquid |
| 1 | Ordering |
| 1 | Organic phosphate |
| 1 | Temperature effects |
| 1 | X-ray reflection |
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