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Serveur d'exploration sur les relations entre la France et l'Australie - Analysis (Allemagne)

Index « Auteurs » - entrée « G. Segato »
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G. Sean Mcgrady < G. Segato < G. Segneri  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 2.
Ident.Authors (with country if any)Title
002A67 (1998) E. Cantatore [Suisse, Italie] ; F. Antinori [Italie] ; K. H. Becks [Allemagne] ; H. Beker [Suisse] ; E. J. Buis [Pays-Bas] ; P. Burger [Australie] ; M. Campbell [Suisse] ; L. Casagrande [Portugal] ; M. G. Catanesi [Italie] ; E. Chesi [Suisse] ; S. D'Auria [Italie] ; C. Davià [Suisse, Royaume-Uni] ; D. Di Bari [Italie] ; S. Di Liberto [Italie] ; T. Gys [Suisse] ; E. H. M. Heijne [Suisse] ; G. Humpston [Royaume-Uni] ; A. Jacholkowski [Suisse] ; J. J. J Ger [France] ; W. Klempt [Suisse] ; J. Kubasta [République tchèque] ; R. Leitner [République tchèque] ; V. Lenti [Italie] ; M. Luptak [République tchèque] ; P. Martinengo [Suisse] ; M. A. Mazzoni [Italie] ; G. Meddeler [Pays-Bas] ; F. Meddi [Italie] ; P. Middelkamp [Suisse, Allemagne] ; B. Mikulec [Suisse] ; M. Morando [Italie] ; F. Pellegrini [Italie] ; S. Pospisil [République tchèque] ; E. Quercigh [Suisse] ; J. Ridky [République tchèque] ; I. Ropotar [Suisse, Allemagne] ; K. Safarik [Suisse] ; S. Saladino [Italie] ; L. Scharfetter [Suisse] ; G. Segato [Italie] ; S. Simone [Italie] ; K. Smith [Royaume-Uni] ; W. Snoeys [Suisse] ; C. Sobczynski [Pologne] ; G. Tomasicchio [Italie] ; V. Vrba [République tchèque]Uniformity of response of the LHC1 large area pixel detector system
002C27 (1994) E. H. M. Heijne [Suisse] ; F. Antinori [Suisse] ; H. Beker [Italie] ; G. Batignani [Italie] ; W. Beusch [Italie] ; V. Bonvicini [Italie] ; L. Bosisio [Italie] ; C. Boutonnet [France] ; P. Burger ; M. Campbell [Suisse] ; P. Cantoni [Italie] ; M. G. Catanesi ; E. Chesi [Suisse] ; C. Claeys [Belgique] ; J. C. Clemens [France] ; M. Cohen Solal [France] ; G. Darbo [Italie] ; C. Da Via [Suisse] ; I. Debusschere [Belgique] ; P. Delpierre [France] ; D. Di Bari ; S. Di Liberto [Italie] ; B. Dierickx [Belgique] ; C. C. Enz [Suisse] ; E. Focardi [Italie] ; F. Forti [Italie] ; Y. Gally [France] ; M. Glaser [Suisse] ; T. Gys [Suisse] ; M. C. Habrard [France] ; G. Hallewell [France] ; L. Hermans [Belgique] ; J. Heuser [Allemagne] ; R. Hurst [Italie] ; P. Inzani [Italie] ; J. J. J Ger [France] ; P. Jarron [Suisse] ; T. Karttaavi [Suisse] ; S. Kersten [Allemagne] ; F. Krummenacher [Suisse] ; R. Leitner ; F. Lemeilleur [Suisse] ; V. Lenti ; M. Letheren [Suisse] ; M. Lokajicek ; D. Loukas [Grèce, Suisse] ; M. Macdermott [Suisse] ; G. Maggi ; V. Manzari ; P. Martinengo [Italie] ; G. Meddeler [Suisse] ; F. Meddi [Italie] ; A. Mekkaoui [France] ; A. Menetrey [Suisse] ; P. Middelkamp [Allemagne] ; M. Morando [Italie] ; A. Munns ; P. Musico [Italie] ; P. Nava [Italie] ; F. Navach ; C. Neyer [Suisse] ; F. Pellegrini [Italie] ; F. Pengg [Suisse] ; R. Perego [Italie] ; M. Pindo [Italie] ; S. Pospisil ; R. Potheau [France] ; E. Quercigh [Suisse] ; N. Redaelli [Italie] ; J. Ridky ; L. Rossi [Italie] ; D. Sauvage [France] ; G. Segato [Italie] ; S. Simone ; B. Sopko ; G. Stefanini [Suisse] ; V. Strakos ; P. Tempesta ; G. Tonelli [Italie] ; G. Vegni [Italie] ; H. Verweij [Suisse] ; G. M. Viertel [Suisse] ; V. Vrba ; J. Waisbard [Italie]Development of silicon micropattern pixel detectors

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documents		Descripteur
2Cern
2Detector
2Instr
2Meth
2Nucl
2Phys
2Pixel
2Pixel detectors
2Readout
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1Adjustable delay lines
1Analog
1Analog output
1Analog readout
1Average delay
1Cantatore
1Chip array
1Chips
1Colour scale
1Complete array
1Delay
1Delay adjustment
1Delay control
1Delay distribution
1Delay line
1Delay spread
1Detector geometry
1Detector thickness
1Development work
1Discriminator threshold
1Electrical stimulus
1Electrical test stimulus
1Elsevier science
1Full plateau
1Granular detector
1Heijne
1High intensity particle physics experiments
1High rate particle physics experiments
1High speed
1Hybrid
1Ieee trans
1Internal delay
1Internal delay distribution
1Internal delay line
1Italy infn
1Large number
1Material thickness
1Matrix
1Micropattern
1Micropattern detector
1Micropattern detectors
1Nucl instr
1Omega experiment
1Other fields
1Particle physics
1Pixel detector ladders
1Pixel matrix
1Pixel readout
1Power consumption
1Radioactive source
1Readout architecture
1Readout chip
1Readout chips
1Readout electronics
1Readout system
1Response time
1Same time
1Semiconductor
1Semiconductor detectors
1Sensor
1Sensor element
1Sensor elements
1Silicon
1Silicon microstrip detectors
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1Single chips
1Single pixel
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1Strobe signal
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1Systematic variation
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1Threshold distribution
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1Threshold variation
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1Timing precision
1Wafer

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