AustralieFrV1, Allemagne, Analysis, indexItem, Author.i, D. C. Daniels

D. C. Coyne < D. C. Daniels < D. C. Dennett

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Ident.	Authors (with country if any)	Title
002A76 (1998)	G. Barichello [Italie] ; A. Cervera-Villanueva [Suisse] ; D. C. Daniels [États-Unis] ; E. Do Couto E Silva [Suisse] ; L. Dumps [Suisse] ; M. Ellis [Australie] ; D. Ferrère [Suisse] ; J. J. Gomez-Cadenas [Suisse] ; M. Gouanère [France] ; J. A. Hernando [Espagne, États-Unis] ; W. Huta [Suisse] ; J. M. Jimenez [Suisse] ; J. Kokkonen [Suisse] ; V. E. Kuznetsov [Russie] ; L. Linssen [Suisse] ; B. Lisowski [Allemagne, Pologne] ; Ö. Runolfsson [Suisse] ; F. J. P. Soler [Australie] ; D. Steele [Suisse] ; M. Stip Evi [Croatie] ; M. Veltri [Italie]	Performance of long modules of silicon microstrip detectors
002A84 (1998)	G. Barichello [Italie] ; A. Cervera-Villanueva [Suisse] ; D. C. Daniels [États-Unis] ; E. Do Couto E Silva [Suisse] ; L. Dumps [Suisse] ; M. Ellis [Australie] ; D. Ferrère [Suisse] ; J. J. G Mez-Cadenas [Suisse] ; C. Gö Ling [Allemagne] ; M. Gouanère [France] ; J. A. Hernando [Espagne, États-Unis] ; W. Huta [Suisse] ; J. M. Jiménez [Suisse] ; J. Kokkonen [Suisse] ; V. E. Kuznetsov [Russie, Suisse] ; L. Linssen [Suisse] ; J. Long [Suisse, États-Unis] ; B. Lisowski [Allemagne, Pologne] ; A. Lupi [Italie] ; Ö. Runolfsson [Suisse] ; B. Schmidt [Allemagne, Suisse] ; F. J. P. Soler [Australie] ; D. Steele [Suisse] ; M. Stip Evi [Croatie] ; M. Veltri [Italie] ; D. Voillat [Suisse]	A B4C-silicon target for the detection of neutrino interactions

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Nombre de documents	Descripteur
2	Barichello
2	Circuit board
2	Detector
2	Elsevier science
2	Instr
2	Leakage
2	Meth
2	Module
2	Nomad
2	Nomad spectrometer
2	Nucl
2	Phys
2	Readout
2	Readout chip
2	Silicon
2	Silicon detector
2	Silicon detectors
2	Silicon microstrip detectors
2	Total charge
1	Additional source
1	Adjacent strips
1	Algorithm
1	Alignment holes
1	Aluminum support
1	Average leakage
1	Backplane
1	Bias voltage
1	Biasing resistors
1	Bond pads
1	Bond wires
1	Boron carbide
1	Capacitance
1	Capacitive network
1	Central strip
1	Charge collection
1	Charge distribution
1	Chips
1	Cluster charge distribution
1	Clusterization schemes
1	Consecutive readout strips
1	Current interaction
1	Current interactions
1	Data acquisition system
1	Data analysis
1	Data points
1	Defective channels
1	Defective strips
1	Delphi experiment
1	Diode strip
1	Dynamical resistance
1	Equivalent circuit
1	Equivalent impedance
1	Equivalent noise charge
1	External survey marks
1	Extrapolation errors
1	Feedback resistor
1	Foxfet
1	General support
1	Ghost hits
1	Hamamatsu photonics
1	Hardware cuts
1	High density
1	Hybrid
1	Icker noise
1	Initial conditions
1	Input transistor
1	Instrumented silicon target
1	Interstrip capacitance
1	Intrinsic resolution
1	Invaluable experience
1	Kinematical variables
1	Laboratory measurements
1	Ladder assembly
1	Ladder testing
1	Landau distribution convolved
1	Laser
1	Laser alignment system
1	Laser beam
1	Laser light
1	Laser spot
1	Leakage currents
1	Long modules
1	Mathematical formulae
1	Metal strip
1	Metal strip resistance
1	Microstrip
1	Model predictions
1	Muon
1	Neutrino
1	Neutrino beam
1	Neutrino interactions
1	Neutrino oscillation experiments
1	Neutrino oscillations
1	Neutrino spill
1	Neutrino triggers
1	Noise contribution
1	Noise performance
1	Noise voltage
1	Noisy channels
1	Noisy strips

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         | HfdSelect -Kh $EXPLOR_AREA/Data/Allemagne/Analysis/biblio.hfd

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