A. Salamon < A. Salas < A. Saleh | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 1.Ident. | Authors (with country if any) | Title |
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001473 (2013) | C. Motzkus [France] ; T. Mace [France] ; F. Gaie-Levrel [France] ; S. Ducourtieux [France] ; A. Delvallee [France] ; K. Dirscherl [Danemark] ; V.-D. Hodoroaba [Allemagne] ; I. Popov [Israël] ; O. Popov [Israël] ; I. Kuselman [Israël] ; K. Takahata [Japon] ; K. Ehara [Japon] ; P. Ausset [France] ; M. Maille [France] ; N. Michielsen [France] ; S. Bondiguel [France] ; F. Gensdarmes [France] ; L. Morawska [Australie] ; G. R. Johnson [Australie] ; E. M. Faghihi [Australie] ; C. S. Kim [Corée du Sud] ; Y. H. Kim [Corée du Sud] ; M. C. Chu [Corée du Sud] ; J. A. Guardado [Mexique] ; A. Salas [Mexique] ; G. Capannelli [Italie] ; C. Costa [Italie] ; T. Bostrom [Australie] ; A. K. J Mting [Australie] ; M. A. Lawn [Australie] ; L. Adlem [Afrique du Sud] ; S. Vaslin-Reimann [France] | Size characterization of airborne SiO2 nanoparticles with on-line and off-line measurement techniques: an interlaboratory comparison study |
List of associated KwdEn.i
Nombre de documents | Descripteur |
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1 | Aerosols |
1 | Atomic force microscopy |
1 | Calibration |
1 | Electrostatics |
1 | Filtration |
1 | Mica |
1 | Nanoparticles |
1 | Nanostructured materials |
1 | Particle size |
1 | Precipitation |
1 | Scanning electron microscopy |
1 | Size measurement |
1 | Transmission electron microscopy |
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