Serveur d'exploration sur Pittsburgh - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « Auteurs » - entrée « R. M. Feenstra »
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R. M. Enick < R. M. Feenstra < R. M. Friedlander  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 4.
Ident.Authors (with country if any)Title
000845 (2014) GUOWEI HE [États-Unis] ; N. Srivastava [États-Unis] ; R. M. Feenstra [États-Unis]Formation of a Buffer Layer for Graphene on C-Face SiC{0001}
002055 (2013) JEWOOK PARK [États-Unis] ; GUOWEI HE [États-Unis] ; R. M. Feenstra [États-Unis] ; An-Ping Li [États-Unis]Atomic-Scale Mapping of Thermoelectric Power on Graphene: Role of Defects and Boundaries
002808 (2012) S. Gaan [États-Unis] ; R. M. Feenstra [États-Unis] ; Ph. Ebert [Allemagne] ; R. E. Dunin-Borkowski [Allemagne] ; J. Walker [États-Unis] ; E. Towe [États-Unis]Structure and electronic spectroscopy of steps on GaAs(110) surfaces
003B30 (2012) R. M. Feenstra [États-Unis] ; G. Bussetti [Italie] ; B. Bonanni [Italie] ; A. Violante [Italie] ; C. Goletti [Italie] ; P. Chiaradia [Italie] ; M. G. Betti [Italie] ; C. Mariani [Italie]Charge transfer between isomer domains on n+-doped Si(111)-2 x 1: energetic stabilization : FROM RECIPROCAL SPACE TO REAL SPACE IN SURFACE SCIENCE

List of associated FC03.fr.i

Nombre de
documents
Descripteur
3Microscopie tunnel balayage
28105U
2Graphène
2Spectrométrie tunnel balayage
2Structure électronique
2Substrat SiC
2Substrat graphène
16114H
16146
16150A
16580
18105T
18130H
1ARPES
1Arséniure de gallium
1As Ga
1Bicouche
1Composé binaire
1Composé minéral
1Conductivité thermique
1Couche mince
1Couche monomoléculaire
1Couche oxyde
1Couche tampon
1Couche épitaxique
1Densité porteur charge
1Densité état électron
1Distorsion
1Dynamique moléculaire
1Energie totale
1Epitaxie
1Etude théorique
1Face cristalline
1Facteur réflexion
1GaAs
1Gradient température
1Gradin
1Graphitation
1Interaction électrostatique
1Interface
1Isomère
1LEED
1Matériau thermoélectrique
1Microscopie électron lent
1Méthode dynamique moléculaire
1Méthode fonctionnelle densité
1Oxydation
1Phonon
1Pouvoir thermoélectrique
1Profil raie
1Propriété symétrie
1Propriété thermique
1Reconstruction surface
1Résolution spatiale
1Semiconducteur
1Silicate
1Silicium
1Spectre photoélectron UV
1Structure atomique
1Structure cristalline
1Structure domaine
1Structure interface
1Structure locale
1Structure surface
1Substrat silicium
1Traitement thermique
1Transfert charge
1Transformation phase

Pour manipuler ce document sous Unix (Dilib)

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   |index=    Author.i
   |clé=    R. M. Feenstra
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Data generation: Fri Jun 18 17:37:45 2021. Site generation: Fri Jun 18 18:15:47 2021