| Markus Schwarz < Markus Siegert < Markus Thomas Rojewski | Facettes : |
List of bibliographic references
Number of relevant bibliographic references: 1.| Ident. | Authors (with country if any) | Title |
|---|---|---|
| 00AF21 (2009) | Martin G. Forrester [États-Unis] ; Joachim W. Ahner [États-Unis] ; Mark D. Bedillion [États-Unis] ; Cedric Bedoya [États-Unis] ; Dierk G. Bolten [États-Unis] ; Kai-Chieh Chang [États-Unis] ; Gudrun De Gersem [États-Unis] ; Shan Hu [États-Unis] ; Earl C. Johns [États-Unis] ; Maissarath Nassirou [États-Unis] ; Jason Palmer [États-Unis] ; Andreas Roelofs [États-Unis] ; Markus Siegert [États-Unis] ; Shingo Tamaru [États-Unis] ; Venugopalan Vaithyanathan [États-Unis] ; Florin Zavaliche [États-Unis] ; Tong Zhao [États-Unis] ; Yongjun Zhao [États-Unis] | Charge-based scanning probe readback of nanometer-scale ferroelectric domain patterns atmegahertz rates |
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