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Index « Auteurs » - entrée « Jonathan Lind »
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Jonathan Levine < Jonathan Lind < Jonathan Livengood  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 1.
Ident.Authors (with country if any)Title
009097 (2012) Christopher M. Hefferan [États-Unis] ; Jonathan Lind [États-Unis] ; Shiu Fai Li [États-Unis] ; Ulrich Lienert [États-Unis] ; Anthony D. Rollett [États-Unis] ; Robert M. Suter [États-Unis]Observation of recovery and recrystallization in high-purity aluminum measured with forward modeling analysis of high-energy diffraction microscopy

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