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Index « PascalFr.i » - entrée « Couche épitaxique »
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List of bibliographic references

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Ident.Authors (with country if any)Title
000040 (2014) Wissam A. Saidi [États-Unis]Van der Waals Epitaxial Growth of Transition Metal Dichalcogenides on Pristine and N-Doped Graphene
000141 (2014) DOOHO CHOI [États-Unis, Corée du Sud]The electron scattering at grain boundaries in tungsten films
000268 (2014) FANG LIU [États-Unis] ; LI HUANG [États-Unis] ; Ranga Kamaladasa [États-Unis] ; Yoosuf N. Picard [États-Unis] ; Edward A. Preble [États-Unis] ; Tanya Paskova [États-Unis] ; Keith R. Evans [États-Unis] ; Robert F. Davis [États-Unis] ; Lisa M. Porter [États-Unis]Site-specific comparisons of V-defects and threading dislocations in InGaN/GaN multi-quantum-wells grown on SiC and GaN substrates
001B84 (2013) Andrew M. Schultz [États-Unis] ; YISI ZHU [États-Unis] ; Stephanie A. Bojarski [États-Unis] ; Gregory S. Rohrer [États-Unis] ; Paul A. Salvador [États-Unis]Eutaxial growth of hematite Fe2O3 films on perovskite SrTiO3 polycrystalline substrates
001B98 (2013) R. Droopad [États-Unis] ; R. Contreras-Guerrero [États-Unis] ; J. P. Veazey [États-Unis] ; Q. Qiao [États-Unis] ; R. F. Klie [États-Unis] ; J. Levy [États-Unis]Epitaxial ferroelectric oxides on semiconductors- A route towards negative capacitance devices
002055 (2013) JEWOOK PARK [États-Unis] ; GUOWEI HE [États-Unis] ; R. M. Feenstra [États-Unis] ; An-Ping Li [États-Unis]Atomic-Scale Mapping of Thermoelectric Power on Graphene: Role of Defects and Boundaries
002477 (2012) R. A. Berechman [États-Unis] ; S. Chung [États-Unis] ; G. Chung [États-Unis] ; E. Sanchez [États-Unis] ; N. A. Mahadik [États-Unis] ; R. E. Stahlbush [États-Unis] ; M. Skowronski [États-Unis]Trapezoid defect in 4H-SiC epilayers
003007 (2012) LI HUANG [États-Unis] ; FANG LIU [États-Unis] ; JINGXI ZHU [États-Unis] ; Ranga Kamaladasa [États-Unis] ; Edward A. Preble [États-Unis] ; Tanya Paskova [États-Unis] ; Keith Evans [États-Unis] ; Lisa Porter [États-Unis] ; Yoosuf N. Picard [États-Unis] ; Robert F. Davis [États-Unis]Microstructure of epitaxial GaN films grown on chemomechanically polished GaN(0001 ) substrates

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