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Serveur d'exploration sur Pittsburgh - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Couche interfaciale »
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Couche double < Couche interfaciale < Couche limite  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 3.
Ident.Authors (with country if any)Title
000C35 (2014) K. S. Min [Corée du Sud] ; S. H. Kang [Corée du Sud] ; J. K. Kim [Corée du Sud] ; J. H. Yum [États-Unis] ; Y. I. Jhon [États-Unis] ; Todd W. Hudnall [États-Unis] ; C. W. Bielawski [États-Unis] ; S. K. Banerjee [États-Unis] ; G. Bersuker [États-Unis] ; M. S. Jhon [États-Unis] ; G. Y. Yeom [Corée du Sud]Atomic layer etching of BeO using BCl3/Ar for the interface passivation layer of III-V MOS devices
001C62 (2013) Hoan Ho [États-Unis] ; David E. Laughlin [États-Unis] ; Jian-Gang Zhu [États-Unis]Effect of RuAl and TiN Underlayers on Grain Morphology, Ordering, and Magnetic Properties of FePt-SiOx Thin Films
002056 (2013) K. S. Min [Corée du Sud] ; S. H. Kang [Corée du Sud] ; J. K. Kim [Corée du Sud] ; Y. I. Jhon [États-Unis] ; M. S. Jhon [États-Unis] ; G. Y. Yeom [Corée du Sud]Atomic layer etching of A12O3 using BCl3/Ar for the interface passivation layer of III-V MOS devices : Nanofabrication 2012

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
2G. Y. Yeom
2J. K. Kim
2K. S. Min
2M. S. Jhon
2S. H. Kang
2Y. I. Jhon
1C. W. Bielawski
1David E. Laughlin
1G. Bersuker
1Hoan Ho
1J. H. Yum
1Jian-Gang Zhu
1S. K. Banerjee
1Todd W. Hudnall

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EXPLOR_STEP=$WICRI_ROOT/Wicri/Amérique/explor/PittsburghV1/Data/PascalFrancis/Checkpoint

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HfdIndexSelect -h $EXPLOR_AREA/Data/PascalFrancis/Checkpoint/FC03.fr.i  \
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   |flux=    PascalFrancis
   |étape=   Checkpoint
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   |index=    FC03.fr.i
   |clé=    Couche interfaciale
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