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Serveur d'exploration sur le nickel au Maghreb - Checkpoint (PascalFrancis)

Index « FC03.fr.i » - entrée « Microscopie force atomique »
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Microscopie < Microscopie force atomique < Microscopie force magnétique  Facettes :

List of bibliographic references

Number of relevant bibliographic references: 6.
Ident.Authors (with country if any)Title
000011 (2014) M. Ben Amor [Tunisie] ; A. Boukhachem [Tunisie] ; K. Boubaker [Tunisie] ; M. Amlouk [Tunisie]Structural, optical and electrical studies on Mg-doped NiO thin films for sensitivity applications
000012 (2014) I. Sta [Tunisie] ; M. Jlassi [Tunisie] ; M. Hajji [Tunisie] ; H. Ezzaouia [Tunisie]Structural, optical and electrical properties of undoped and Li-doped NiO thin films prepared by sol-gel spin coating method
000017 (2014) M. Jlassi [Tunisie] ; I. Sta [Tunisie] ; M. Hajji [Tunisie] ; H. Ezzaouia [Tunisie]Optical and electrical properties of nickel oxide thin films synthesized by sol-gel spin coating
000030 (2014) M. Jlassi [Tunisie] ; I. Sta [Tunisie] ; M. Hajji [Tunisie] ; B. Ben Haoua [Algérie] ; H. Ezzaouia [Tunisie]Effect of annealing atmosphere on the electrical properties of nickel oxide/zinc oxide p-n junction grown by sol-gel technique
000153 (2010) S. Chouchane [Algérie] ; A. Levesque [France] ; P. Zabinski [Pologne] ; R. Rehamnia [Algérie] ; J.-P. Chopart [France]Electrochemical corrosion behavior in NaCl medium of zinc-nickel alloys electrodeposited under applied magnetic field
000432 (2000) V. Branger [France] ; C. Coupeau [France] ; P. Goudeau [France] ; B. Boubeker [France, Maroc] ; K. F. Badawi [France] ; J. Grilhe [France]Atomic force microscopy analysis of buckling phenomena in metallic thin films on substrates

List of associated Author.i

Nombre de
documents		Descripteur
3H. Ezzaouia
3I. Sta
3M. Hajji
3M. Jlassi
1A. Boukhachem
1A. Levesque
1B. Ben Haoua
1B. Boubeker
1C. Coupeau
1J. Grilhe
1J.-P. Chopart
1K. Boubaker
1K. F. Badawi
1M. Amlouk
1M. Ben Amor
1P. Goudeau
1P. Zabinski
1R. Rehamnia
1S. Chouchane
1V. Branger

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